3D АНАЛИТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЗАЦИОННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ СИСТЕМЫ MnTe–SnTe–Sb2Te3
Для трехмерного моделирования поверхностей кристаллизации системы MnTe–SnTe–Sb2Te3 использовался аналитический метод на основе имеющихся данных граничных систем и небольшого количества экспериментальных ДТА-измерений. Аналитические зависимости температур от составов для ликвидусов исследуемой тройной системы и граничных бинарных систем получены с использованием 2D и 3D функции программы OriginLab. Полученные результаты позволили визуализировать поверхности кристаллизации фаз системы MnTe–SnTe–Sb2Te3
doi.org/10.32737/0005-2531-2021-2-94-100
Ключевые слова : трехмерное аналитическое моделирование, поверхности ликвидуса, система MnTe–SnTe–Sb2Te3, топологические изоляторы
Просмотр статьи
.png)